SANSにおける様々なプロット

2011.3.29; 最終更新日：2014.9.18

中性子散乱では人の名前のついたさまざまなプロットにより解析を行います。

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小角中性子散乱(SANS)では散乱強度I(q)を散乱ベクトル（または波数）qの関数としてさまざまな形式でプロットすることにより、物質のいろいろな情報を得ることができます。(a)は均一系中のゆらぎの大きさを調べるZimm（ジム）プロットです。ゆらぎの大きさ、相関長xi（グザイ）がわかります。(b)は媒体中で分散した粒子の大きさを評価するGuinier（ギニエ）プロットです。粒子の回転半径Rgがわかります。(c)はサンドイッチ状のラメラ構造からの散乱で、ラメラ周期Lの逆数1/Lに比例したqに鋭いピークが出てきます。(d)は大きさのそろった丸い粒子がばらばらにある時に観測される散乱です。ピークの位置やカーブフィッティングから粒子の半径Rが求まります。